NS系列納米臺階測厚儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點。

VT6000高分辨率共焦顯微鏡基于光學共軛共焦原理，主要采用3D捕獲的成像技術顯微成像測量，具有較高的三維圖像分辨率。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

NS系列薄膜臺階高度測量儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術，使得儀器具備超高的測量精度和測量重復性。其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。

SuperViewW納米級高精度白光干涉測量儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。

VT6000大傾角超清納米共聚焦測量顯微鏡用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。它是基于光學共軛共焦原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。

SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度測量儀以白光干涉技術為原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。